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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡(jiǎn)稱(chēng)AFM）是一種高分辨率的顯微鏡，能夠用來(lái)觀(guān)察物質(zhì)表面的原子和分子結(jié)構(gòu)。它利用了原子之間的相互作用力，通過(guò)掃描探測(cè)器在樣品表面掃描的方式來(lái)獲取表面拓?fù)湫畔?。?jiǎn)易型原子力顯微鏡主要由三個(gè)基本部分組成：掃描探針、驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)和信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)。1.掃描探針，它通常是一個(gè)非......
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原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，AFM）是一種能夠在納米尺度下觀(guān)察和測(cè)量材料表面形貌、力學(xué)性質(zhì)的高分辨率顯微鏡。其探針是實(shí)現(xiàn)這一功能的關(guān)鍵部件之一。原子力顯微鏡探針的構(gòu)成主要包括探針頭、彈性臂和掃描儀。其中，探針頭是用于接觸樣品表面進(jìn)行掃描的部分，也是實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的重要組成部分。探針頭通常......
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spm掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面分析技術(shù)，它利用納米級(jí)尖掃描探頭探測(cè)樣品表面的拓?fù)洹㈦妼W(xué)、磁學(xué)等性質(zhì)。在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和電子工程等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。SPM的基本原理是通過(guò)一個(gè)微小的探針在非接觸或輕微接觸條件下掃描樣品表面，并通過(guò)檢測(cè)掃描探針與樣品表面之間的相互作用力來(lái)獲取樣品表面的信息。探針通常由半導(dǎo)體、金屬......
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高分辨率原子力顯微鏡是一種特別的顯微鏡，它能夠以非常高的分辨率探測(cè)物質(zhì)表面。它的工作原理基于探測(cè)物體表面的微小高度變化。AFM使用一個(gè)非常小的探頭，探頭尖直徑只有幾個(gè)納米，通過(guò)掃描探針來(lái)測(cè)量物體表面的高度和形狀。探針通常由非常細(xì)的針頭、光纖或者金屬箔制成。當(dāng)探針接觸到物體表面時(shí)，會(huì)發(fā)生微小的力作用，這個(gè)力可以在探針尖產(chǎn)......
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